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gentec-eo激光功率計和能量計在這個領域擁有超過45年的歷史。 Gentec-EO功率計的UP17-H/W系列具有薄外殼、智能界面。憑借45年的記錄以及從工廠到醫院和實驗室提供激光功率和能量測量...
Gentec Electro Optics提供全系列產品以滿足您的脈沖能量測量需求。Gentec-EO激光能量計從精益和便攜式QE12和QE25系列，大光圈QE50、QE65和QE95系列到我們的大型...
加拿大Gentec-EO 推出激光功率計能量計表頭，為擁有完整的激光功率測量系統，您將需要一款采集與讀出設備搭配您的功率探測器。我們提供不同功能的設備以滿足需求。無論您希望在大型觸摸顯示屏彩色 LCD...
ENTERPRISE ADVANTAGE
選擇我們就是選擇高品質，我們是您的信賴之選！
非接觸式、非破壞性，實時在線測量或離線測量
可單次測量多層膜，可測20層
探針靈活配置，實現多個不同目標測量
測試速度快，適用范圍廣
關于我們
ABOUT US
北京昊然偉業光電科技有限公司成立于2010年，專業代理歐美（德國、瑞士、美國、波蘭等）高精度的光學檢測設備，致力于為科研和工業客戶提供光學檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內的服務。主要包括：光學檢測產品：應力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測量系統/剪切干涉儀/非接觸式測厚儀/測角儀/可調相位延遲波片等；激光檢測產品：激光功率計、能量計及光束質量分析儀等；集成系統所需的激光器、步進位移平臺、偏振光轉換器等顯微系統所需的XYZ電動載物臺、波片進片機、高速相機ICCD、像增強器300ps門...
技術支持
TCEHNICAL SUPPORT
Gentec-EO激光能量計采用了探測技術，能夠準確地捕捉激光的能量。無論是連續激光還是脈沖激光，它都能有效地進行測量。對于不同波長的激光，該能量計也展現出了良...
7-2
角分辨散射儀是一種用于測量材料表面粗糙度和微觀結構的儀器，以下是其基本工作原理：1.光的散射現象：當一束激光投射到樣品表面上時，會發生反射和散射現象。除了鏡向方向的反射光外，還會有散射光分布在一個半球面內，且半球面內各點的光強不同。2.探測器接收信號：使用具有小但有限孔徑的探測器，沿著試樣周圍的全散射球上接收這些不同分布的光強。探測器通常可以圍繞樣品在入射平面內作接近180°或360°的轉動，從而測得非入射平面內的散射光。3.數據處理與分析：接收到的光強信號經過統計學和光譜分...
6-24
束流收集器的測量基本原理是將束流能量轉化為可測量的信號，通過特定裝置實現束流強度、位置等參數的獲取，以下是詳細介紹：能量轉化與信號測量束流本身不可見、不可直接測量，需將其轉化為可觀測的光信號或可處理的電信號，以此反饋束流特征。例如法拉第筒法，當被測電子束入射到法拉第筒的電荷收集體中，與收集體物質發生相互作用而被阻止時，產生激勵電流，電流流經低感電阻，產生正比于束流強度的瞬時電位，從這個電位可以推算出所測束流強度。束流位置探測原理電子束團在運動過程中，在其周圍會產生電場和磁場。...
6-24
激光測厚儀憑借其準確的特性，已成為現代工業與科研的重要工具。盡管存在使用條件限制，但其在無損檢測、自動化生產中的價值不可替代。隨著技術迭代，未來有望在更多領域發揮關鍵作用。激光測厚儀主要由以下部分組成：1.激光發射系統：產生高穩定性激光束，需具備準確的頻率和功率控制。2.接收與分析系統：包括光電傳感器、放大器及算法處理器，負責接收反射信號并轉換為厚度數據。3.機械裝置：用于固定和調整激光探頭的位置，確保測量對準。4.軟件界面：實時顯示厚度數值，支持數據存儲與分析。激光測厚儀的...
新聞中心
NEWS CENTER
當光進入Lumetrics測厚儀的干涉儀后，輸入光被等比例分束成為兩束光。這兩束光頻率相同、振動方向相同，但具有穩定的相位差，并沿不同光路傳播。在輸出端重新匯合...
5-8
激光測厚儀是一種基于激光技術的高精度非接觸式測量設備，通過發射激光束并捕捉反射信號，實現對材料厚度的實時、動態監測。其核心優勢在于突破傳統接觸式測量的局限，以微米級精度滿足現代工業對品質控制的嚴苛需求，成為航空航天、汽車制造、新能源等領域的核心檢測工具。一、技術原理：雙傳感器對射與三角測距的精密融合激光測厚儀的核心技術可分為兩大體系：雙激光位移傳感器對射法與三角測距原理。雙傳感器對射法：設備上下各配置一臺激光位移傳感器，分別測量被測物體上表面與下表面的空間坐標。通過計算兩傳感...
3-17
應力雙折射檢測是一種重要的光學檢測技術，它基于應力對材料光學性質的影響，通過測量光線在應力作用下的偏折現象來評估材料的應力狀態。應力雙折射，又稱光彈性效應，是指透明的各向同性介質在受到壓力或張力的作用時，其折射率特性會發生變化，從而顯示出光學上的各向異性。這種現象導致光線在穿過應力場時會發生偏折，且偏折程度與應力大小成正比。當材料受到外力作用時，其內部分子結構會發生變化，導致電性質也發生變化，進而影響到光線的折射率。這種折射率的變化使得光線在穿過材料時發生偏折，形成應力雙折射...
12-26
光束質量分析儀的基本原理是通過測量光束在空間上的偏離程度來評估光束的質量。這種偏離程度可以通過測量光束的多個參數來實現，包括但不限于發散角、束腰位置、束腰直徑以及光強分布等。具體來說：光強分布測量：利用高精度的光學系統和電子設備，捕捉并分析激光光束的光強分布。這通常包括計算光束的光強二階矩，以及使用雙曲線擬合法等數學方法來計算光束的束腰寬度和遠場發散角。參數計算：基于測量的光強分布，分析儀可以進一步計算出光束的質量因子(如M?因子)，這是衡量光束聚焦性能的重要指標。同時，還可...
激光測量
